A Test Fixture for the Measurement of 3-port Y-junction AFSIW Circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

A Test Fixture for the Measurement of 3-port Y-junction AFSIW Circuits

Issam Marah
  • Fonction : Auteur
Aurelie Verger
  • Fonction : Auteur
Jean-Marie Pham
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03651606 , version 1 (25-04-2022)

Identifiants

Citer

Issam Marah, Antony Ghiotto, Aurelie Verger, Jean-Marie Pham. A Test Fixture for the Measurement of 3-port Y-junction AFSIW Circuits. 2021 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP), Nov 2021, Chongqing, China. pp.305-307, ⟨10.1109/IMWS-AMP53428.2021.9643855⟩. ⟨hal-03651606⟩
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