Thermal characterization of MoS2 mono/few layers using Scanning Thermal Microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Thermal characterization of MoS2 mono/few layers using Scanning Thermal Microscopy

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

Pierre-Olivier Chapuis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03649748

Soumis le : vendredi 22 avril 2022-20:51:37

Dernière modification le : vendredi 7 juin 2024-12:06:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03649748 , version 1 (22-04-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03649748 , version 1

Citer

Christian Mateo Frausto Avila, Victor M Arellano Arreola, Jose Martin Yanez Limon, Andres de Luna Bugallo, Séverine Gomés, et al.. Thermal characterization of MoS2 mono/few layers using Scanning Thermal Microscopy. MRS Spring meeting, Symposium "Nanoscale heat transport", Apr 2021, Seattle (remote), United States. ⟨hal-03649748⟩

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