Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 1994
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https://hal.science/hal-03612979
Soumis le : vendredi 18 mars 2022-10:33:05
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
Francois Danneville, Henri Happy, Gilles Dambrine, J.-M. Belquin, A. Cappy. Microscopic noise modeling and macroscopic noise models: how good a connection? [FETs]. IEEE Transactions on Electron Devices, 1994, 41 (5), pp.779-786. ⟨10.1109/16.285031⟩. ⟨hal-03612979⟩
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