Microscopic noise modeling and macroscopic noise models: how good a connection? [FETs] - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 1994
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Dates et versions

hal-03612979 , version 1 (18-03-2022)

Identifiants

Citer

Francois Danneville, Henri Happy, Gilles Dambrine, J.-M. Belquin, A. Cappy. Microscopic noise modeling and macroscopic noise models: how good a connection? [FETs]. IEEE Transactions on Electron Devices, 1994, 41 (5), pp.779-786. ⟨10.1109/16.285031⟩. ⟨hal-03612979⟩
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