Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 1996
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https://hal.science/hal-03612845
Soumis le : vendredi 18 mars 2022-09:55:59
Dernière modification le : jeudi 26 septembre 2024-16:18:03
Citer
J. Mateos, T. González, D. Pardo, P. Tadyszak, Francois Danneville, et al.. Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures. Solid-State Electronics, 1996, 39 (11), pp.1629-1636. ⟨10.1016/0038-1101(96)00083-4⟩. ⟨hal-03612845⟩
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