Innovative Transient Study of Tri-Bandpass Negative Group Delay Applied to Microstrip Barcode-Circuit - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Access Année : 2021

Innovative Transient Study of Tri-Bandpass Negative Group Delay Applied to Microstrip Barcode-Circuit

https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9514541

Lili Wu
  • Fonction : Auteur
Fayu Wan
Rym Assila Belhadj Mefteh
  • Fonction : Auteur
Remy Vauche
CV
George Chan
Xiang Zhou
  • Fonction : Auteur
Fayrouz Haddad
Wenceslas Rahajandraibe
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Blaise Ravelo

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Wenceslas RAHAJANDRAIBE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03606638

Soumis le : vendredi 11 mars 2022-23:35:57

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-03606638 , version 1 (11-03-2022)

Identifiants

Citer

Lili Wu, Fayu Wan, Rym Assila Belhadj Mefteh, Remy Vauche, George Chan, et al.. Innovative Transient Study of Tri-Bandpass Negative Group Delay Applied to Microstrip Barcode-Circuit. IEEE Access, 2021, 9, pp.115030-115041. ⟨10.1109/ACCESS.2021.3105040⟩. ⟨hal-03606638⟩

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