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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2022

Impact of multi-finger MOSFET geometry on the electrical performance of RF circuits

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hal-03604352 , version 1 (07-03-2023)

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Citer

Sehmi Saad, Fayrouz. Haddad, Aymen Ben Hammadi. Impact of multi-finger MOSFET geometry on the electrical performance of RF circuits. Microelectronics Reliability, 2022, 129, pp.114445. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114445⟩. ⟨hal-03604352⟩
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