Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) imaging reveals cholesterol overload in the cerebral cortex of Alzheimer disease patients - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Acta Neuropathologica Année : 2013

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) imaging reveals cholesterol overload in the cerebral cortex of Alzheimer disease patients

Adina Lazar
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Laboratoire de Mécanique des Contacts et des Structures [Villeurbanne]
Claudia Bich
Maï Panchal
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Citer

Adina Lazar, Claudia Bich, Maï Panchal, Nicolas Desbenoit, Vanessa Petit, et al.. Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) imaging reveals cholesterol overload in the cerebral cortex of Alzheimer disease patients. Acta Neuropathologica, 2013, 125 (1), pp.133-144. ⟨10.1007/s00401-012-1041-1⟩. ⟨hal-03572637⟩

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