Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2019
Silvano De Franceschi : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03541771
Soumis le : lundi 24 janvier 2022-20:16:13
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:01
Citer
Arnout Beckers, Farzan Jazaeri, Heorhii Bohuslavskyi, Louis Hutin, Silvano de Franceschi, et al.. Characterization and modeling of 28-nm FDSOI CMOS technology down to cryogenic temperatures. Solid-State Electronics, 2019, 159, pp.106-115. ⟨10.1016/j.sse.2019.03.033⟩. ⟨hal-03541771⟩
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