Weibull strength size effect of diamond wire sawn photovoltaic silicon wafers
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Chimie| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Article Dans Une Revue
Journal of the European Ceramic Society
Année : 2020
Accord Elsevier CCSD : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03491360
Soumis le : lundi 22 août 2022-15:45:43
Dernière modification le : mardi 25 juillet 2023-16:08:54
Archivage à long terme le : mercredi 23 novembre 2022-23:53:41
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Identifiants
- HAL Id : hal-03491360 , version 1
- DOI : 10.1016/j.jeurceramsoc.2020.07.018
- PII : S0955-2219(20)30573-2
Citer
Louise Carton, Roland Riva, Daniel Nélias, Marion Fourmeau. Weibull strength size effect of diamond wire sawn photovoltaic silicon wafers. Journal of the European Ceramic Society, 2020, 40, pp.5357 - 5368. ⟨10.1016/j.jeurceramsoc.2020.07.018⟩. ⟨hal-03491360⟩
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