Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2021
Wenceslas RAHAJANDRAIBE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03469739
Soumis le : mardi 7 décembre 2021-21:47:58
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Citer
Fayu Wan, Ningdong Li, Blaise Ravelo, Wenceslas Rahajandraibe, Sebastien Lallechere. Design of ₌׀₌ Shape Stub-Based Negative Group Delay Circuit. IEEE Design & Test, 2021, 38 (2), pp.78-88. ⟨10.1109/MDAT.2020.3002149⟩. ⟨hal-03469739⟩
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