0IO-Shape PCB Trace Negative Group-Delay Analysis

Fayu Wan; Bin Liu; Preeti Thakur; Atul Thakur; Sebastien Lallechere; Wenceslas Rahajandraibe; Blaise Ravelo

doi:10.1109/ACCESS.2020.2997464

Article Dans Une Revue IEEE Access Année : 2020

0IO-Shape PCB Trace Negative Group-Delay Analysis

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1

Fayu Wan

Fonction : Auteur
PersonId : 803944
ORCID : 0000-0002-5626-6065

Bin Liu

Fonction : Auteur

Preeti Thakur

Fonction : Auteur
PersonId : 793799
ORCID : 0000-0002-2028-3410

Atul Thakur

Fonction : Auteur
PersonId : 762746
ORCID : 0000-0002-2150-7826

Sebastien Lallechere

Fonction : Auteur
PersonId : 740097
IdHAL : sebastien-lallechere
ORCID : 0000-0001-7517-672X
IdRef : 113965710

Wenceslas Rahajandraibe

Fonction : Auteur
PersonId : 751037
IdHAL : rahajandraibe-wenceslas
ORCID : 0000-0003-1508-5927

Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

Blaise Ravelo

Fonction : Auteur
PersonId : 803945
ORCID : 0000-0001-7334-5016
IdRef : 133610926

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Wenceslas RAHAJANDRAIBE : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03469737

Soumis le : mardi 7 décembre 2021-21:44:43

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Dates et versions

hal-03469737 , version 1 (07-12-2021)

Identifiants

HAL Id : hal-03469737 , version 1
DOI : 10.1109/ACCESS.2020.2997464

Citer

Fayu Wan, Bin Liu, Preeti Thakur, Atul Thakur, Sebastien Lallechere, et al.. 0IO-Shape PCB Trace Negative Group-Delay Analysis. IEEE Access, 2020, 8, pp.97707-97717. ⟨10.1109/ACCESS.2020.2997464⟩. ⟨hal-03469737⟩

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