Enhanced Resonant Raman scattering of GaN functional layers using Al thin films -a versatile tool for multilayer structure analysis
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Energie électriqueOrigine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : lundi 1 novembre 2021-16:29:15
Dernière modification le : vendredi 2 février 2024-16:26:01
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