An Access Modelling-based De-embedding Method for High-frequency Characterization of Uni-traveling carrier Photodiodes
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Communication Dans Un Congrès
Année : 2022
Chhandak Mukherjee : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03407781
Soumis le : jeudi 10 novembre 2022-13:00:45
Dernière modification le : mardi 1 août 2023-14:54:05
Archivage à long terme le : samedi 11 février 2023-18:51:17
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03407781 , version 1
- DOI : 10.23919/EuMC50147.2022.9784170
Citer
Djeber Guendouz, Marina Deng, Mukherjee Chhandak, Christophe Caillaud, Patrick Mounaix, et al.. An Access Modelling-based De-embedding Method for High-frequency Characterization of Uni-traveling carrier Photodiodes. European Microwave Week 2021, EuMW 2021, Apr 2022, London, United Kingdom. ⟨10.23919/EuMC50147.2022.9784170⟩. ⟨hal-03407781⟩
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