Monitoring the morphological changes of Si-based electrodes by X-ray computed tomography: A 4D-multiscale approach - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nano Energy Année : 2020

Monitoring the morphological changes of Si-based electrodes by X-ray computed tomography: A 4D-multiscale approach

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NANOEN 74 (2020) 104848 V Vanpeene text VFrev.pdf (2.24 Mo) Télécharger le fichier
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hal-03368072 , version 1 (06-01-2022)

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Citer

Victor Vanpeene, Julie Villanova, Jussi-Petteri Suuronen, Andrew King, Anne Bonnin, et al.. Monitoring the morphological changes of Si-based electrodes by X-ray computed tomography: A 4D-multiscale approach. Nano Energy, 2020, 74, ⟨10.1016/j.nanoen.2020.104848⟩. ⟨hal-03368072⟩
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