Sensing performances of integrated ISFETs on 28 nm CMOS FDSOI technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03364707 , version 1 (04-10-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03364707 , version 1

Citer

A Souifi, T Ayele G, J.P. P Cloarec, F Boeuf, S Ecoffey, et al.. Sensing performances of integrated ISFETs on 28 nm CMOS FDSOI technology. IEEE Sensors France International Workshop, Nov 2020, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-03364707⟩
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