Accurate post-mortem alignment for Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) tomography
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| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : mercredi 2 août 2023-11:32:37
Dernière modification le : jeudi 23 avril 2026-14:50:05
Archivage à long terme le : vendredi 3 novembre 2023-19:00:47