Communication Dans Un Congrès
Année : 1993
Francois Danneville : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03317746
Soumis le : samedi 7 août 2021-09:47:02
Dernière modification le : lundi 1 juillet 2024-15:34:04
Citer
Francois Danneville, Gilles Dambrine, H. Happy, A. Cappy. Influence of the gate leakage current on the noise performance of MESFETs and MODFETs. 1993 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, Jun 1993, Atlanta, United States. pp.373-376 vol.1, ⟨10.1109/mwsym.1993.276800⟩. ⟨hal-03317746⟩
Collections
39
Consultations
0
Téléchargements