Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Physical Review B Année : 2020

Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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Soumis le : mardi 31 mai 2022-15:23:27

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-13:26:03

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hal-03288778 , version 1 (31-05-2022)

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Citer

Natalia Turek, S. Godey, D. Deresmes, Thierry Melin. Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy. Physical Review B, 2020, 102 (23), ⟨10.1103/PhysRevB.102.235433⟩. ⟨hal-03288778⟩

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