Design and Test of Innovative Three Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2021

Design and Test of Innovative Three Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit

Fayu Wan
Taochen Gu
  • Fonction : Auteur
Sebastien Lallechere
Preeti Thakur
Atul Thakura
  • Fonction : Auteur
Wenceslas Rahajandraibe
Blaise Ravelo
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03274898 , version 1 (30-06-2021)

Identifiants

Citer

Fayu Wan, Taochen Gu, Sebastien Lallechere, Preeti Thakur, Atul Thakura, et al.. Design and Test of Innovative Three Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit. IEEE Design & Test, 2021, pp.1-1. ⟨10.1109/MDAT.2021.3079178⟩. ⟨hal-03274898⟩
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