Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2021
SEBASTIEN LALLECHERE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03274898
Soumis le : mercredi 30 juin 2021-15:17:31
Dernière modification le : lundi 30 octobre 2023-16:38:04
Citer
Fayu Wan, Taochen Gu, Sebastien Lallechere, Preeti Thakur, Atul Thakura, et al.. Design and Test of Innovative Three Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit. IEEE Design & Test, 2021, pp.1-1. ⟨10.1109/MDAT.2021.3079178⟩. ⟨hal-03274898⟩
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