Influence of Calibration Methods and RF Probes on the RF Characterization of 28FD-SOI MOSFET - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Influence of Calibration Methods and RF Probes on the RF Characterization of 28FD-SOI MOSFET

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03273422

Soumis le : mardi 29 juin 2021-11:11:54

Dernière modification le : vendredi 18 octobre 2024-11:16:01

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03273422 , version 1 (29-06-2021)

Identifiants

Citer

Karthi Pradeep, Marina Deng, Benjamin Dormieu, Patrick Scheer, Magali De Matos, et al.. Influence of Calibration Methods and RF Probes on the RF Characterization of 28FD-SOI MOSFET. 2021 IEEE Latin America Electron Devices Conference (LAEDC), Apr 2021, Mexico, Mexico. pp.1-4, ⟨10.1109/LAEDC51812.2021.9437917⟩. ⟨hal-03273422⟩

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