Variability Evaluation of 28nm FD-SOI Technology at Cryogenic Temperatures down to 100mK for Quantum Computing - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Variability Evaluation of 28nm FD-SOI Technology at Cryogenic Temperatures down to 100mK for Quantum Computing

B. Cardoso Paz
  • Fonction : Auteur
L. Le Guevel
M. Casse
  • Fonction : Auteur
G. Billiot
  • Fonction : Auteur
G. Pillonnet
CV
A. Jansen
Laboratoire de Transport Electronique Quantique et Supraconductivité
PHotonique, ELectronique et Ingénierie QuantiqueS
R. Maurand
Laboratoire de Transport Electronique Quantique et Supraconductivité
PHotonique, ELectronique et Ingénierie QuantiqueS
S. Haendler
  • Fonction : Auteur
A. Juge
  • Fonction : Auteur
E. Vincent
  • Fonction : Auteur
P. Galy
  • Fonction : Auteur
G. Ghibaudo
  • Fonction : Auteur
M. Vinet
S. de Franceschi
Laboratoire de Transport Electronique Quantique et Supraconductivité
PHotonique, ELectronique et Ingénierie QuantiqueS
T. Meunier
  • Fonction : Auteur
F. Gaillard
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique Quantique [quant-ph] Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.science/hal-03211508

Soumis le : mercredi 28 avril 2021-17:36:32

Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:14:08

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03211508 , version 1 (28-04-2021)

Identifiants

Citer

B. Cardoso Paz, L. Le Guevel, M. Casse, G. Billiot, G. Pillonnet, et al.. Variability Evaluation of 28nm FD-SOI Technology at Cryogenic Temperatures down to 100mK for Quantum Computing. 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, Jun 2020, Honolulu, France. pp.1-2, ⟨10.1109/VLSITechnology18217.2020.9265034⟩. ⟨hal-03211508⟩

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