Gentle and fast atomic force microscopy with piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Nanotechnology Année : 2013

Gentle and fast atomic force microscopy with piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications

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Sciences de l'ingénieur [physics]

Sinan Haliyo  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03190995

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  • HAL Id : hal-03190995 , version 1

Citer

Juan Camilo Acosta, Jérôme Polesel-Maris, Frédéric Thoyer, Hui Xie, Sinan Haliyo, et al.. Gentle and fast atomic force microscopy with piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications. Nanotechnology, 2013, 24 (6), pp.065502. ⟨hal-03190995⟩

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