Article Dans Une Revue
Nanotechnology
Année : 2013
Sinan Haliyo : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03190995
Soumis le : mardi 6 avril 2021-18:27:00
Dernière modification le : lundi 5 février 2024-11:54:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03190995 , version 1
Citer
Juan Camilo Acosta, Jérôme Polesel-Maris, Frédéric Thoyer, Hui Xie, Sinan Haliyo, et al.. Gentle and fast atomic force microscopy with piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications. Nanotechnology, 2013, 24 (6), pp.065502. ⟨hal-03190995⟩
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