Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2020
Jérémie Maire : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03170879
Soumis le : mardi 16 mars 2021-15:04:13
Dernière modification le : mercredi 17 avril 2024-14:36:04
Citer
Susanne Sandell, Emigdio Chávez-Ángel, Alexandros El Sachat, Jianying He, Clivia Sotomayor Torres, et al.. Thermoreflectance techniques and Raman thermometry for thermal property characterization of nanostructures. Journal of Applied Physics, 2020, 128 (13), pp.131101. ⟨10.1063/5.0020239⟩. ⟨hal-03170879⟩
25
Consultations
0
Téléchargements