A Study on the Strain Distribution by Scanning X-ray diffraction on GaP/Si for III-V Monolithic Integration on Silicon for Nonlinear Optics
Ang Zhou
(1)
,
Yanping Wang
(1)
,
Charles Cornet
(1)
,
Yoan Léger
(1)
,
Laurent Pedesseau
(1)
,
Olivier Durand
(1)
,
Vincent Favre-Nicolin
(2)
,
Gilbert André Chahine
(3)
,
Tobias Schulli
(2)
,
Joel Eymery
(4)
,
Mounib Bahri
(5)
,
Gilles Patriarche
(5)
,
Ludovic Largeau
(5)
,
Antoine Létoublon
(1)
Yanping Wang
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3178
- IdHAL : yanping-wang
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Charles Cornet
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3283
- IdHAL : charles-cornet
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Yoan Léger
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3149
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Laurent Pedesseau
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3779
- IdHAL : laurent-pedesseau
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Olivier Durand
- Fonction : Auteur
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Joel Eymery
- Fonction : Auteur
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Gilles Patriarche
- Fonction : Auteur
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Ludovic Largeau
- Fonction : Auteur
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Antoine Létoublon
- Fonction : Auteur
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