Exploring a Non-conventional Testing Technique for Asynchronous Circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03100560 , version 1 (06-01-2021)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-03100560 , version 1

Citer

R. Aquino Guazzelli, Matheus Garay Trindade, Laurent Fesquet, Rodrigo Possamai Bastos. Exploring a Non-conventional Testing Technique for Asynchronous Circuits. 21èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM 2019), Jun 2019, Montpellier, France. ⟨hal-03100560⟩

Collections

UGA CNRS TIMA
28 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More