Dynamic degradation of metallic nanowire networks under electrical stress: a comparison between experiments and simulations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nanoscale Advances Année : 2021

Dynamic degradation of metallic nanowire networks under electrical stress: a comparison between experiments and simulations

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hal-03094601 , version 1 (07-06-2021)

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Nicolas Charvin, Joao Resende, Dorina Papanastasiou, David Munoz-Rojas, Carmen Jiménez, et al.. Dynamic degradation of metallic nanowire networks under electrical stress: a comparison between experiments and simulations. Nanoscale Advances, 2021, 3, pp.675-681. ⟨10.1039/D0NA00895H⟩. ⟨hal-03094601⟩
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