Editorial - Special Issue: Current Trends in Optical and X–Ray Metrology of Advanced Materials for Nanoscale Devices & Epitaxial Integration of Dissimilar Materials. - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Physica Status Solidi A (applications and materials science) Année : 2019

Editorial - Special Issue: Current Trends in Optical and X–Ray Metrology of Advanced Materials for Nanoscale Devices & Epitaxial Integration of Dissimilar Materials.

Mircea Modreanu
  • Fonction : Auteur
Charles Cornet
Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON
CV
Olivier Durand
Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON
Hiroyuki Fujiwara
  • Fonction : Auteur
Gerald Jellison
  • Fonction : Auteur
Gavin Bell
  • Fonction : Auteur
Clement Merckling
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Charles Cornet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03034470

Soumis le : mardi 1 décembre 2020-17:26:38

Dernière modification le : mardi 24 septembre 2024-16:46:17

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Dates et versions

hal-03034470 , version 1 (01-12-2020)

Identifiants

Citer

Mircea Modreanu, Charles Cornet, Olivier Durand, Hiroyuki Fujiwara, Gerald Jellison, et al.. Editorial - Special Issue: Current Trends in Optical and X–Ray Metrology of Advanced Materials for Nanoscale Devices & Epitaxial Integration of Dissimilar Materials.. Physica Status Solidi A (applications and materials science), 2019, 216 (8), pp.1900251. ⟨10.1002/pssa.201900251⟩. ⟨hal-03034470⟩

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