Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2020
SEBASTIEN LALLECHERE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03022842
Soumis le : mardi 24 novembre 2020-23:55:16
Dernière modification le : samedi 22 avril 2023-04:33:58
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03022842 , version 1
Citer
Fayu Wan, Ningdong Li, Blaise Elysée Guy Ravelo, Wenceslas Rahajandraibe, Sébastien Lallechere. Design of ‗|‗ Shape Stub Based Negative Group Delay Circuit. IEEE Design & Test, 2020. ⟨hal-03022842⟩
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