Tunnel electroresistance in BiFeO 3 junctions: size does matter - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2016

Tunnel electroresistance in BiFeO 3 junctions: size does matter

S. Boyn
  • Fonction : Auteur
A. Douglas
  • Fonction : Auteur
C. Blouzon
  • Fonction : Auteur
P. Turner
  • Fonction : Auteur
A. Barthélémy
  • Fonction : Auteur
M. Bibes
CV
S. Fusil
  • Fonction : Auteur
J. Gregg
  • Fonction : Auteur
Vincent Garcia
Laboratoire Albert Fert (ex-UMPhy Unité mixte de physique CNRS/Thales)
CV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

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https://hal.science/hal-03007210

Soumis le : lundi 16 novembre 2020-11:45:02

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54

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Dates et versions

hal-03007210 , version 1 (16-11-2020)

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Citer

S. Boyn, A. Douglas, C. Blouzon, P. Turner, A. Barthélémy, et al.. Tunnel electroresistance in BiFeO 3 junctions: size does matter. Applied Physics Letters, 2016, 109 (23), pp.232902. ⟨10.1063/1.4971311⟩. ⟨hal-03007210⟩

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