Article Dans Une Revue
Microelectronics Journal
Année : 2020
Agnès Bussy : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03002039
Soumis le : jeudi 12 novembre 2020-16:16:27
Dernière modification le : jeudi 2 mai 2024-13:39:59
Citer
Amira Nabil, Jose Bernardo, Yue Ma, Mohamed Abouelatta, Ahmed Shaker, et al.. Electrical modeling of tapered TSV including MOS-Field effect and substrate parasitics: Analysis and application. Microelectronics Journal, 2020, 100, pp.104797. ⟨10.1016/j.mejo.2020.104797⟩. ⟨hal-03002039⟩
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