Communication Dans Un Congrès Année : 2007
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Dates et versions

hal-02952244 , version 1 (29-09-2020)

Identifiants

Citer

M.B. Zahid, L. Pantisano, R. Degraeve, M. Aoulaiche, Lionel Trojman, et al.. Advanced electrical characterization toward (sub) 1nm EOT HfSiON ¿ hole trapping in PFET and L-dependent effects. 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, Jun 2007, Kyoto, Japan. pp.32-33, ⟨10.1109/VLSIT.2007.4339715⟩. ⟨hal-02952244⟩

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