Article Dans Une Revue IEEE Electron Device Letters Année : 2014

Defect-Centric Distribution of Channel Hot Carrier Degradation in Nano-MOSFETs

Luis Miguel Procel
  • Fonction : Auteur
Felice Crupi
  • Fonction : Auteur
Jacopo Franco
  • Fonction : Auteur
Ben Kaczer
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Dates et versions

hal-02952196 , version 1 (29-09-2020)

Identifiants

Citer

Luis Miguel Procel, Felice Crupi, Jacopo Franco, Lionel Trojman, Ben Kaczer. Defect-Centric Distribution of Channel Hot Carrier Degradation in Nano-MOSFETs. IEEE Electron Device Letters, 2014, 35 (12), pp.1167-1169. ⟨10.1109/LED.2014.2361342⟩. ⟨hal-02952196⟩

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