Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs

B. Kaczer
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M. Cho
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Ph. Roussel
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S. Tyaginov
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M. Bina
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Y. Wimmer
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L. Procel
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F. Crupi
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G. Pitner
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V. Putcha
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P. Weckx
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E. Bury
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A. de Keersgieter
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G. Groeseneken
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Dates et versions

hal-02952187 , version 1 (29-09-2020)

Identifiants

Citer

B. Kaczer, J. J. Franco, M. Cho, T. Grasser, Ph. Roussel, et al.. Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs. 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2015, Monterey, United States. pp.3B.5.1-3B.5.6, ⟨10.1109/IRPS.2015.7112706⟩. ⟨hal-02952187⟩

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