Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs
B. Kaczer
,
J. J. Franco
(1)
,
M. Cho
,
T. Grasser
(2)
,
Ph. Roussel
,
S. Tyaginov
,
M. Bina
,
Y. Wimmer
,
L. Procel
,
Lionel Trojman
(3)
,
F. Crupi
,
G. Pitner
,
V. Putcha
,
P. Weckx
,
E. Bury
,
Z. Ji
(4)
,
A. de Keersgieter
,
T. Chiarella
(5)
,
N. Horiguchi
(5)
,
G. Groeseneken
,
A. Thean
(5)
B. Kaczer
- Fonction : Auteur
M. Cho
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Ph. Roussel
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S. Tyaginov
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M. Bina
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Y. Wimmer
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L. Procel
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Lionel Trojman
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- PersonId : 1276971
- IdHAL : lionel-trojman
- ORCID : 0000-0003-2316-4959
- IdRef : 241071941
F. Crupi
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G. Pitner
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V. Putcha
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P. Weckx
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E. Bury
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A. de Keersgieter
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G. Groeseneken
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