Statistical model of the NBTI-induced threshold voltage, subthreshold swing, and transconductance degradations in advanced p-FinFETs
J. J. Franco
(1)
,
B. Kaczer
,
S. Mukhopadhyay
(1)
,
P. Duhan
,
P. Weckx
,
Ph. Roussel
,
T. Chiarella
(1)
,
L.-A Ragnarsson
,
Lionel Trojman
(2)
,
N. Horiguchi
(1)
,
A. Spessot
,
D. Linten
(1)
,
A. Mocuta
(1)
B. Kaczer
- Fonction : Auteur
P. Duhan
- Fonction : Auteur
P. Weckx
- Fonction : Auteur
Ph. Roussel
- Fonction : Auteur
L.-A Ragnarsson
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Lionel Trojman
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1276971
- IdHAL : lionel-trojman
- ORCID : 0000-0003-2316-4959
- IdRef : 241071941
A. Spessot
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