Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
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https://hal.science/hal-02951709
Soumis le : lundi 28 septembre 2020-20:11:45
Dernière modification le : mercredi 17 septembre 2025-16:45:11
Citer
Eliana Acurio, Lionel Trojman, Felice Crupi, Ferdinando Iucolano, Nicolo Ronchi, et al.. Reliability in GaN-based devices for power applications. 2018 IEEE Third Ecuador Technical Chapters Meeting (ETCM), Oct 2018, Cuenca, France. pp.1-6, ⟨10.1109/ETCM.2018.8580263⟩. ⟨hal-02951709⟩
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