Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2016

Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits

Hao Cai
  • Fonction : Auteur
Kaikai Liu
  • Fonction : Auteur
Lirida Naviner
You Wang
Mariem Slimani
  • Fonction : Auteur
Jean-François Naviner
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1184743
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02942489 , version 1 (17-09-2020)

Identifiants

Citer

Hao Cai, Kaikai Liu, Lirida Naviner, You Wang, Mariem Slimani, et al.. Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.19-25. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.116⟩. ⟨hal-02942489⟩
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