Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits

Hao Cai; Kaikai Liu; Lirida Naviner; You Wang; Mariem Slimani; Jean-François Naviner

doi:10.1016/j.microrel.2016.07.116

Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2016

Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits

, , (1) , , ,

1

Hao Cai

Fonction : Auteur

Kaikai Liu

Fonction : Auteur

Lirida Naviner

Fonction : Auteur
PersonId : 737026
IdHAL : lirida-naviner
ORCID : 0000-0002-6320-4153

Télécom Paris

CV

You Wang

Fonction : Auteur
PersonId : 971706
ORCID : 0000-0002-6917-2199

Mariem Slimani

Fonction : Auteur

Jean-François Naviner

Fonction : Auteur
PersonId : 1184743

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lirida Naviner : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02942489

Soumis le : jeudi 17 septembre 2020-23:19:16

Dernière modification le : vendredi 4 octobre 2024-03:17:52

Dates et versions

hal-02942489 , version 1 (17-09-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02942489 , version 1
DOI : 10.1016/j.microrel.2016.07.116

Citer

Hao Cai, Kaikai Liu, Lirida Naviner, You Wang, Mariem Slimani, et al.. Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.19-25. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.116⟩. ⟨hal-02942489⟩

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