Addressing Failure and Aging Degradation in MRAM/MeRAM-on-FDSOI Integration - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Année : 2019

Addressing Failure and Aging Degradation in MRAM/MeRAM-on-FDSOI Integration

Hao Cai
  • Fonction : Auteur
You Wang
Lirida Naviner
Département Communications & Electronique
Secure and Safe Hardware
CV
Xinning Liu
  • Fonction : Auteur
Weiwei Shan
  • Fonction : Auteur
Jun Yang
Weisheng Zhao
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lirida Naviner  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02942486

Soumis le : jeudi 17 septembre 2020-23:06:57

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02942486 , version 1 (17-09-2020)

Identifiants

Citer

Hao Cai, You Wang, Lirida Naviner, Xinning Liu, Weiwei Shan, et al.. Addressing Failure and Aging Degradation in MRAM/MeRAM-on-FDSOI Integration. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 66 (1), pp.239-250. ⟨10.1109/TCSI.2018.2854277⟩. ⟨hal-02942486⟩

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