Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
Année : 2019
Lirida Naviner : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02942486
Soumis le : jeudi 17 septembre 2020-23:06:57
Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03
Citer
Hao Cai, You Wang, Lirida Naviner, Xinning Liu, Weiwei Shan, et al.. Addressing Failure and Aging Degradation in MRAM/MeRAM-on-FDSOI Integration. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 66 (1), pp.239-250. ⟨10.1109/TCSI.2018.2854277⟩. ⟨hal-02942486⟩
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