Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2011
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https://hal.science/hal-02942481
Soumis le : jeudi 17 septembre 2020-22:42:19
Dernière modification le : mercredi 4 février 2026-03:27:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02942481 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2011.06.020
Citer
Tian Ban, Lirida Naviner. Progressive module redundancy for fault-tolerant designs in nanoelectronics. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9-11), pp.1489-1492. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.020⟩. ⟨hal-02942481⟩
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