Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2011

Progressive module redundancy for fault-tolerant designs in nanoelectronics

Tian Ban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 913103
  • IdRef : 174721544
Lirida Naviner

Dates et versions

hal-02942481 , version 1 (17-09-2020)

Identifiants

Citer

Tian Ban, Lirida Naviner. Progressive module redundancy for fault-tolerant designs in nanoelectronics. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9-11), pp.1489-1492. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.020⟩. ⟨hal-02942481⟩
57 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

  • More