‘Characterization and analysis of electrical traps related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs’ - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2012

‘Characterization and analysis of electrical traps related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs’

F. Berthet
  • Fonction : Auteur
H. Gualous
  • Fonction : Auteur
B. Boudart
  • Fonction : Auteur
J.L. Trolet
  • Fonction : Auteur
M. Piccione
  • Fonction : Auteur
V. Sbrugnera
  • Fonction : Auteur
B. Grimbert
Christophe Gaquière
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02936070 , version 1 (11-09-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02936070 , version 1

Citer

F. Berthet, Y. Guhel, H. Gualous, B. Boudart, J.L. Trolet, et al.. ‘Characterization and analysis of electrical traps related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs’. Solid-State Electronics, 2012. ⟨hal-02936070⟩
12 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More