‘Comparative studies of Pt and Ir Schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N’ - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

‘Comparative studies of Pt and Ir Schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N’

Y. Guhel
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg
B. Boudart
  • Fonction : Auteur
E. Delos
  • Fonction : Auteur
M. Germain
  • Fonction : Auteur
Z. Bougrioua

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Yannick Guhel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02936062

Soumis le : vendredi 11 septembre 2020-00:08:06

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02936062 , version 1 (11-09-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02936062 , version 1

Citer

Y. Guhel, B. Boudart, E. Delos, M. Germain, Z. Bougrioua. ‘Comparative studies of Pt and Ir Schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N’. Microelectronics Reliability, 2006. ⟨hal-02936062⟩

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