Comprehensive frequency chirp characterization of silicon ring resonator modulators

The frequency chirping properties of a silicon ring resonator modulator are experimentally investigated and compared to a numerical model. The influence of the wavelength detuning and the modulation frequency are highlighted for the first time.

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Optique / photonique

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Weckenmann_OSA_APC_IPR_2020_ITu1A.4.pdf (238.55 Ko)

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https://hal.science/hal-02916195

Soumis le : lundi 17 août 2020-14:30:35

Dernière modification le : lundi 16 septembre 2024-17:52:04

Archivage à long terme le : lundi 30 novembre 2020-20:48:00

Dates et versions

hal-02916195 , version 1 (17-08-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02916195 , version 1
DOI : 10.1364/IPRSN.2020.ITu1A.4

Citer

Erwan Weckenmann, Laurent Bramerie, Mathilde Gay, Diego Pérez-Galacho, Frédéric Boeuf, et al.. Comprehensive frequency chirp characterization of silicon ring resonator modulators. OSA Advanced Photonics Congress 2020 (APC 2020), The Optical Society, Jul 2020, Washington, United States. pp.ITu1A.4, ⟨10.1364/IPRSN.2020.ITu1A.4⟩. ⟨hal-02916195⟩

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