Electrical Impedance Tomography using Sparsity Regularization and Machine Learning Approach - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Electrical Impedance Tomography using Sparsity Regularization and Machine Learning Approach

Shyla Kupis
  • Fonction : Auteur
Vincent Barra
Laboratoire d'Informatique, de Modélisation et d'optimisation des Systèmes
CV
Taufiquar Khan
  • Fonction : Auteur

Domaines

Apprentissage [cs.LG]

Vincent BARRA  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02901424

Soumis le : vendredi 17 juillet 2020-11:01:17

Dernière modification le : mardi 18 avril 2023-10:00:05

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02901424 , version 1 (17-07-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02901424 , version 1

Citer

Shyla Kupis, Vincent Barra, Taufiquar Khan. Electrical Impedance Tomography using Sparsity Regularization and Machine Learning Approach. SIAM Conference on Imaging Science, Jul 2020, Toronto, Canada. ⟨hal-02901424⟩

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