Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
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https://hal.science/hal-02595160
Soumis le : vendredi 15 mai 2020-19:43:16
Dernière modification le : jeudi 1 août 2024-13:48:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02595160 , version 1
Citer
Jean-Paul Booth, E.V. Johnson, T. Verbeke, J-C Vanel. Nanocrystalline silicon film growth morphology control through RF waveform tailoring. AVS Symposium, Oct 2010, Albuquerque, New Mexico, United States. ⟨hal-02595160⟩
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