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Communication Dans Un Congrès Année : 2020

In-Situ Calibration and De-Embedding Test Structure Design for SiGe HBT On-Wafer Characterization up to 500 GHz

M. Cabbia
  • Fonction : Auteur
M. De Matos
  • Fonction : Auteur
T. Zimmer
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02569052 , version 1 (10-05-2020)

Identifiants

Citer

M. Cabbia, Marina Deng, S. Fregonese, M. De Matos, D. Celi, et al.. In-Situ Calibration and De-Embedding Test Structure Design for SiGe HBT On-Wafer Characterization up to 500 GHz. 2020 94th ARFTG Microwave Measurement Symposium (ARFTG), Jan 2020, San Antonio, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/ARFTG47584.2020.9071733⟩. ⟨hal-02569052⟩
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