Emptiness Check of Powerset Büchi Automata using Inclusion Tests - Archive ouverte HAL
Rapport (Rapport Technique) Année : 2006

Emptiness Check of Powerset Büchi Automata using Inclusion Tests

Test de vacuité d'automates de Büchi ensemblistes en utilisant des tests d'inclusion.

Résumé

A possible attack on the state explosion of the automata-theoretic approach to model-checking is to build an automaton B whose states represent sets of states of the original automaton A to check for emptiness. This paper introduces two emptiness checks for Büchi automata whose states represent sets that may include each other. The first check on B is equivalent to a traditional emptiness check on A but uses inclusion tests to direct and further reduce the on-the-fly construction of B. The second check is impressively faster but may return false negatives. We illustrate and benchmark both using a symmetry-based reduction.
Une façon de luter contre l'explosion combinatoire de l'espace d'états dans l'approche automate du model-checking est de construire un automate B dont les états représentent des ensembles d'états de l'automate original A dont on veut tester la vacuité. Nous introduisons deux tests de vacuité pour les automates de Büchi dont les états représentent des ensembles qui peuvent s'inclure les uns les autres. Le premier test sur B équivaut au test de vacuité traditionnel que l'on ferait sur A, mais utilise des inclusions pour diriger et réduire d'avantage la construction à la volée de B. Le second test est énormément plus rapide, mais peut retourner de faux négatifs. Nous illustrons et mesurons ces deux algorithmes avec une réduction basée sur les symétries
Fichier principal
Vignette du fichier
lip6-2006-003.pdf (271.7 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Loading...

Dates et versions

hal-02545696 , version 1 (17-04-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02545696 , version 1

Citer

Souheib Baarir, Alexandre Duret-Lutz. Emptiness Check of Powerset Büchi Automata using Inclusion Tests. [Technical Report] lip6.2006.003, LIP6. 2006. ⟨hal-02545696⟩
173 Consultations
95 Téléchargements

Partager

More