Characterisation of electromagnetic susceptibility of integrated circuits using near-field scan - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02523686 , version 1 (29-03-2020)

Identifiants

Citer

A. Boyer, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard. Characterisation of electromagnetic susceptibility of integrated circuits using near-field scan. Electronics Letters, 2007, 43 (1), pp.15. ⟨10.1049/el:20073130⟩. ⟨hal-02523686⟩
58 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More