Deep-Level Transient Fourier Spectroscopy (DLTFS) for the characterization of defect states in functional oxide-based devices - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2019

Deep-Level Transient Fourier Spectroscopy (DLTFS) for the characterization of defect states in functional oxide-based devices

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Laurence Méchin  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02522206

Soumis le : vendredi 27 mars 2020-17:58:17

Dernière modification le : jeudi 25 avril 2024-16:46:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02522206 , version 1 (27-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02522206 , version 1

Citer

Yoann Lechaux, Bruno Guillet, Albert Minj, Yu Chen, Gervasi C Herranz, et al.. Deep-Level Transient Fourier Spectroscopy (DLTFS) for the characterization of defect states in functional oxide-based devices. GDR Oxyfun, Journée thématique “Couches minces d’oxydes fonctionnels et applications », Oct 2019, Caen, France. ⟨hal-02522206⟩

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