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Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02519525 , version 1 (26-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02519525 , version 1

Citer

Hélène Frémont. Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches. Séminaire « Durabilité et fiabilité des panneaux photovoltaïques de diverses technologies en environnements agressifs » UDES, 2018, Bou Ismail, Algérie. ⟨hal-02519525⟩
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