Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02519525
Soumis le : jeudi 26 mars 2020-10:13:58
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02519525 , version 1
Citer
Hélène Frémont. Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches. Séminaire « Durabilité et fiabilité des panneaux photovoltaïques de diverses technologies en environnements agressifs » UDES, 2018, Bou Ismail, Algérie. ⟨hal-02519525⟩
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