Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02517244
Soumis le : mardi 24 mars 2020-14:09:02
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02517244 , version 1
Citer
K. Weide-Zaage, H. Frémont, V. Hein. "New automotive” - Considerations for reliability, robustness and resilience for CMOS interconnects. Proceedings of Pan Pacific Microelectronics Symposium 2018, 2018, Hawai, United States. ⟨hal-02517244⟩
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